萊塔思光學發布超快插損測試儀 1秒完成多通道插損測試

  ICC訊 插損的測試在多光纖連接器的制程中是必不可少的重要工序。目前市場上的多光纖插回損測試儀都是基于光開關，完成12通道的測試最少需要20秒以上的時間，慢的甚至需要1分鐘才能完成，顯著影響了生產效率。

  萊塔思光學針對多光纖連接器測試儀速度慢的問題，發明了一款超快測試儀，測試速度比現有的產品快10倍以上，大大提升了測試工序的效率。能做到不到1秒鐘就完成12通道的插損測試。常用的通道數有12 、 16、 24 、32、48可供選擇。

  此超快測試儀采用了全新的工作原理（已申請發明專利），不是基于光開關。在測試過程中光路完全不變化，因此重復測試時插損變化量絕對為零。這款測試儀可以作為校準設備，校準其他廠家的測試儀。

  在光源輸出界面也一改傳統的單光纖FC接口輸出方式，采用自家獨創的非接觸MPO和預松弛MPO光纖連接器（MJC）這兩款先進光纖連接器作為光源輸出接口，能大大降低設備接口損壞問題，延長插拔壽命。輸出輸入面板非常簡潔，操作連接也非常方便。

超快測試儀照片

  萊塔思光學是一家專注于光纖連接器產品研發、生產及銷售的高科技企業，由留美博士創立。公司總部位于浙江寧波，在美國硅谷、深圳均設有全資子公司。

  萊塔思光學在世界光纖連接器行業有一系列影響深遠的發明，居于技術領導地位。公司已經連續推出了多款顛覆性發明：非接觸光纖連接器、預松弛MPO光纖連接器（MJC）、超小型MT插芯光纖連接器（MTC）、MT轉MPO適配器。萊塔思光學立足光通訊市場，在光連接器、測試設備、技術服務等方面為客戶提供領先的解決方案。

  此款超快測試儀可以接受預定。首臺樣機將2023深圳光博會（CIOE）現場展出和演示，光博會展位號是： 9B75。歡迎咨詢洽談。