橫河Meters & Instruments上市提高光學性能光譜分析儀

     橫河Meters & Instruments（總部：東京都立川市）2010年8月25日上市了在開發制造光通信設備及光學部件時測量光波分布的“光譜分析儀 AQ6370C”。該產品為“光譜分析儀AQ6370B”的后續機型，雜散光抑制比（對混入測量中的無用光可抑制多少的指標）達到了76dB，這是業界首次公示這一保證值。

　　據橫河介紹，精度較高的測量所花費的時間較原機型得到了改善，因此可提高開發時及生產線的測量作業效率，以及削減成本。測量精度方面，按照波長劃分測量光的單色儀（色散分光計）提高了性能，實現了0.02nm的波長分辨率及73dB的動態范圍。通過分離接近測量對象光的光學噪聲，可準確測量光譜。另外，測量時間方面，可在0.2秒內測量100nm的波長間隔。該產品可用于開發制造光收發器及光放大器等光學部件時的光學特性試驗及產品評測。

　　備有標準款及高性能款2種型號，標準款的價格為334萬日元起（不含稅），高性能款為364萬日元起（不含稅）。目標是2010年度包括海外市場在內銷售300臺。