在線研討會 | 硅光芯片及器件on-wafer測試技術 歡迎預約

  ICC訊  7月4日，2pm-4pm，ICC訊石聯合是德科技舉辦硅光芯片及器件on-wafer測試技術研討會。會議邀請到了是德科技聯合FormFactor的高級光學工程師袁博士將對硅光器件發展趨勢及晶圓/芯片級測試方案做相關介紹并與嘉賓互動。 如今，硅光技術在高速光互聯的數據中心場景快速落地，前所未有的高速光電轉換與集成需求對測試技術提出了更高要求，如何看待硅光芯片及器件on-wafer發展趨勢，確保800G/1.6T甚至更高速率數據傳輸的準確性與可靠性。

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  光子集成可提供更高的密度、更好的性能和更低的成本，從而為多太比特以太網的切換和通信、量子計算、激光雷達和生物傳感應用提供支持。晶圓級進行快速、全面的高品質參數化測試，生成大量關于器件性能的數據，從而用于設計驗證，減少進行大批量制造時選擇合格裸片所花的時間。

  會議日程

  · 硅光芯片及器件on-wafer發展趨勢及測試解決方案更新

  · 超越電子：硅光子器件的晶圓和芯片級創新測試方案

  · 答疑與抽獎

  演講嘉賓

袁泉博士 FormFactor的高級光學工程師

  袁博士畢業于田納西大學諾克斯維爾分校電氣工程與計算機科學系，獲得博士學位。畢業后，他在普渡大學擔任研究助理教授，后加入FormFactor。在FormFactor，袁博士主要負責硅光子學相關產品的研究和開發，特別是作為FormFactor Pharos技術的技術負責人。他的研究興趣包括硅光子學、MEMS制造和光電系統集成。袁博士在各個領域發表了大量論文，并持有多項專利。

朱振華 是德科技光通信資深解決方案工程師

  畢業于華中科技大學(本科)以及清華大學(碩士)。于2011年加入是德科技公司，作為應用工程師工作至今。主要負責為各大光器件及光網絡設備企業、高?？蒲性核峁┕馔ㄐ艤y試方面的技術支持和服務，對光通信領域內的核心器件和網絡、相干光通信、高速光電接口等的測試方法原理有深入了解和豐富的實測經驗。

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