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    歡迎蒞臨 | 聯訊儀器攜800G TestHead 參加2023深圳光博會

    摘要:第24屆中國國際光電博覽會將于2023年9月6-8日深圳國際會展中心(保安新館)舉辦,聯訊儀器將攜400G/800G Test Head 參會,展位號:10A73,歡迎蒞臨指導!

      ICC訊 第24屆中國國際光電博覽會將于2023年9月6-8日深圳國際會展中心(保安新館)舉辦,聯訊儀器將攜400G/800G Test Head 參會,展位號:10A73,歡迎蒞臨指導!

    400G/800G 光模塊測試解決方案

      分立測試解決方案

      基于獨立的臺式儀表,包括誤碼儀,示波器,時鐘恢復單元等,實現最大程度的靈活性

    分立儀表400G/800G FR4 測試框圖

      集成式Test Head

      除傳統分立測試平臺外,聯訊儀器還提供高集成化Test Head

      MTP4101/MTP4102/MTP4104,支持10Gbps~400Gbps 光模塊測試

      MTP8102,支持800Gbps OSFP/QSFP-DD光模塊測試


     Test Head 特點

      Test Head集誤碼分析儀(BERT),MCB測試板,TEC溫度循環控制系統為一體,實現不同溫度環境下高速光模塊的誤碼測試

      集成式MCB測試卡,實現靈活快捷的DUT MCB更換

      集成式誤碼儀平臺,省去額外的線纜連接,進一步減少測試臺空間和成本

      集成TEC溫度控制系統,支持模塊溫度循環測試

    Test Head 支持模塊類型及并行測試數量

      800G Test Head 2xFR4 測試框圖

    800G Test Head 2xFR4 測試框圖

      核心儀表特點及介紹

      DCA6201 采樣示波器

      多種 Filter 可選,25.78/26.56/27.95/28.05Gbps,265625/28.9Gbaud PAM4

      通過 SIRC可擴展filter 范圍(12.44Gbaud-56Gbaud)

      支持53Gbaud PAM4(SIRC)眼圖測試

      支持 50GPON OLT TDEC(SIRC)測試

      支持 NRZ和PAM4 的測試

      56G 波特率時鐘恢復單元

      聯訊儀器CR6256時鐘恢復單元,支持24.8832~32.5 Gbaud/49.7664 ~56Gbaud速率下的NRZ/PAM4信號時鐘提取,廣泛應用于單波53 Gbaud光模塊及接口提取時鐘

      單多模一體集成,可支持單模和多模光信號時鐘恢復

      高靈敏度

        12dBm @ 53.125 Gbaud PAM4

      14dBm @ 26.5625 Gbaud PAM4

      低抖動,恢復時鐘隨機抖動典型值 290fs

      800G誤碼儀

      聯訊儀器PBT8812高速串行誤碼儀,支持24.33~56.25 Gbaud符號速率,完全覆蓋 200/400/800Gbps 光模塊測試場景

      各通道可獨立配置為NRZ或PAM4信號制式

      支持接收端電眼直方圖及信噪比測量

      支持 3 階/7 階模式下,發射端的預加重及去加重調制

      支持真實FEC產生和測試分析

      關于聯訊

      聯訊儀器是國內高端測試儀器和設備提供商。主要專注于光網絡測試、光芯片測試、電性能測試和功率芯片測試??梢蕴峁┌ǜ咚僬`碼儀、網絡測試儀、寬帶采樣示波器、高精度波長計、光譜儀,通用數字源表等高端測試儀器,以及高速光電混合ATE, 激光器芯片老化機,激光器芯片測試機,硅光晶圓測試機,功率芯片測試機,晶圓老化機等高端測試設備。

      更多產品詳情,請訪問 www.semight.com

      聯系我們,請訪問 sales@semight.com

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    關鍵字: 800G 聯訊
    文章標題:歡迎蒞臨 | 聯訊儀器攜800G TestHead 參加2023深圳光博會
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