深度剖析國產自研光學測量測試系統

  ICC訊 昊衡科技致力于為光通信用戶提供更先進、更穩定、更可靠的測試解決方案，推出了一系列光學測量測試系統。其中高分辨光學鏈路診斷系統(OCI)與光學矢量分析系統(OCI-V)備受大家關注，為了便于大家選擇適合自己的產品，昊衡科技將進行深度剖析，探究它們究竟有何不同之處。

  OCI高分辨光學鏈路診斷系統

單端反射式測量

 分布式回損、插損、光譜、群延時測量

OCI-V光矢量分析系統

雙端透射式測量

自校準

  不同點有三個方面，分別是測量原理、測量參數以及產品應用。

  測量原理

  高分辨光學鏈路診斷系統(OCI)采用的是OFDR光頻域反射技術，檢測待測光纖中背向瑞利散射信號，實現對光纖鏈路的全方位診斷;

  光學矢量分析系統(OCI-V)采用線性掃頻光源對帶測器件進行掃描，并結合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得各光學參數。

  測量參數

  高分辨光學鏈路診斷系統(OCI)測量分布式插損、回損、光譜、群延時等光學參數;

  光學矢量分析系統(OCI-V)測量PDL(偏振相關損耗)、PMD(偏振模色散)、IL(插損)、GD(群延時)、CD(色散)等光學參數。

  另外，在系統設備顯示上也有所差異，OCI顯示橫坐標為長度，縱坐標為反射;OCI-V顯示橫坐標為波長，縱坐標為各待測參數，其含義是測量不同波長下的各參數值。

  產品應用

  高分辨光學鏈路診斷系統(OCI)主要應用在光器件、光模塊測量，光纖長度精確測量，硅光芯片測量，光譜、群延時測量等。

  光學矢量分析系統(OCI-V)主要針對于無源器件(平面波導器件、硅光器件、波長可調器件、放大器等)測量。

  OCI測量光纖鏈路，測得各位置處的分布式損耗，空間分辨率高達10μm。

  OCI-V測量HCN氣體吸收室，測得不同波長下的插損，波長精度可達1.6pm。

  相同點是OCI與OCI-V均產自昊衡科技，屬于國產自研產品。設備自校準，無需人為干預，穩定性非常好，能精準測量各待測參數且極大節省測試時間。

  現在，大家都更加了解高分辨光學鏈路診斷系統(OCI)與光學矢量分析系統(OCI-V)吧，如有任何問題，歡迎大家咨詢!

  昊衡科技

  一家集研發、生產、銷售于一體的高科技公司，專業從事工業級自校準光學測量與傳感技術開發，也是國內唯一一家實現OFDR技術商用化的公司。

  目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產品，主要應用于光學鏈路診斷、光學多參數測量、高精度分布式光纖溫度和應變傳感測試。已與全球多個國家和地區企業建立良好的合作關系，并取得諸多成果。

  電話：027-87002165

  官網：http://www.mega-sense.com/

  公眾號：“昊衡科技”或“大話光纖傳感”