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    宜捷威提供組件測試新設備—Laser Diode高溫測試系統

    摘要: FLT-704 Laser Diode Burn In System是宜捷威Faztec Optronics和臺灣工業技術研究院ITRI合作之Laser Diode高溫測試系統


     FLT-704 Laser Diode Burn In System是宜捷威Faztec  Optronics和臺灣工業技術研究院ITRI合作之Laser Diode高溫測試系統,此系統采用IC BUTN-IN作法,烤箱內完全采用PCB和插座做為電流導通之介質,不采用易劣化之電線,且把高溫爐和控制室整合在一個機箱內,所以外部除了電源線外,看不到多余的電線,整個系統在外觀上非常簡潔,并采用觸控屏幕做為人機界面,操作簡單易懂。

    FLT-704為LD驅動電流0~200mA與PIN-TIA驅動電壓0~10V,可由人機界面設定,每個Channel最高驅動電流為45mA。而此系統最大的特色是LD系統共有24個測試盤,并分成四組,即每盤64顆LD,每組6盤,PIN-TIA系統也有24個測試盤,分成二組,即每盤64顆PIN-TIA,每組12盤,兩者皆可獨立由觸控屏幕上設定燒測電流值與電壓值。LD在燒測時,TO-Can內的PD可同以5~25V的電壓,提供逆偏BURN-IN與 PD之逆偏電壓,二個OVEN也可獨立設定測溫度,溫度范圍R.T.~100℃,燒測時間為0~9999.9小時,同時實際燒測時間也會示在觸控屏幕上,當燒測時間結束時,系統會自動OFF電流、電壓、溫度,即本系統具有定時功能。且LD的腳位由驅動電路板上的跳接線選擇。

    目前使用者包含多家光通訊大廠如武漢電信器件WTD,武漢華工正源光子HG Genuine,與SAE。宜捷威科技Faztec Optronics為國內少數專注于光通訊量測的儀器供貨商,由量測光模塊Transceiver起家的宜捷威,從上游組件LD測試,PD測試,TO-CAC測試,TOSA測試,ROSA測試,到完成品光模塊Transceiver測試均可。配合光通訊設備組件代理與自行開發產品雙主軸策略來服務客戶,宜捷威系技術、行銷并重,且于武漢光谷為中心啟開華人光通訊測試品牌先機。
     

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