宜捷威提供組件測試新設備—Laser Diode高溫測試系統

 FLT-704 Laser Diode Burn In System是宜捷威Faztec  Optronics和臺灣工業技術研究院ITRI合作之Laser Diode高溫測試系統，此系統采用IC BUTN-IN作法，烤箱內完全采用PCB和插座做為電流導通之介質，不采用易劣化之電線，且把高溫爐和控制室整合在一個機箱內，所以外部除了電源線外，看不到多余的電線，整個系統在外觀上非常簡潔，并采用觸控屏幕做為人機界面，操作簡單易懂。

FLT-704為LD驅動電流0~200mA與PIN-TIA驅動電壓0~10V，可由人機界面設定，每個Channel最高驅動電流為45mA。而此系統最大的特色是LD系統共有24個測試盤，并分成四組，即每盤64顆LD，每組6盤，PIN-TIA系統也有24個測試盤，分成二組，即每盤64顆PIN-TIA，每組12盤，兩者皆可獨立由觸控屏幕上設定燒測電流值與電壓值。LD在燒測時，TO-Can內的PD可同以5~25V的電壓，提供逆偏BURN-IN與 PD之逆偏電壓，二個OVEN也可獨立設定測溫度，溫度范圍R.T.~100℃，燒測時間為0~9999.9小時，同時實際燒測時間也會示在觸控屏幕上，當燒測時間結束時，系統會自動OFF電流、電壓、溫度，即本系統具有定時功能。且LD的腳位由驅動電路板上的跳接線選擇。

目前使用者包含多家光通訊大廠如武漢電信器件WTD，武漢華工正源光子HG Genuine，與SAE。宜捷威科技Ｆaztec Optronics為國內少數專注于光通訊量測的儀器供貨商，由量測光模塊Transceiver起家的宜捷威，從上游組件ＬD測試，PD測試，TO-CAC測試，TOSA測試，ROSA測試，到完成品光模塊Transceiver測試均可。配合光通訊設備組件代理與自行開發產品雙主軸策略來服務客戶，宜捷威系技術、行銷并重，且于武漢光谷為中心啟開華人光通訊測試品牌先機。