是德科技5500SPM升級方案—start of a new generation

　　ICCSZ訊  隨著是德科技新一代掃描探針顯微鏡控制器的研發推出，升級原有5500SPM系統將帶來全新更為先進高效的掃描控制方式及便捷的軟件控制界面。

　　系統升級后的優勢如下：

　　* 基于FPGA處理單元的高帶寬全數字化新型控制器(FPGA@200MHz)

　　* 全新NanoNavigator 掃描控制軟件，直觀簡潔的流程式控制界面，對于各種成像模式系統都預先集成運行模板，用戶使用時調用相應模板即可，包括專家級操作模式

　　* 全新的Quick Sense成像模式，對AFM成像力達到皮牛級精準控制，您可在成像的同時同步獲取表面粘滯力分布圖、接觸剛度分布圖、壓入深度分布圖、彈性模量分布圖及電流分布圖等力學電學信息，并且成像速度及分辨率未受到任何影響

　　* AutoDrive功能自動設置掃描成像參數

　　* 成像速度較常規有顯著提高

　　* 一整套基于單次掃描的表面電學分析成像模式，包括EFM、KFM、PFM等

　　* 完整的原位電化學控制功能

　　力學性能表征 - QuickSense

　　40um掃描，256 x256數據采集(成像時長約8分鐘);

　　其中粘滯力圖中藍色區域代表高粘滯力，紅色表示中等粘滯力，白色表示低粘滯力;

　　剛度圖中藍色區域代表高模量，紅色代表低模量。

　　電學性能表征 - KFM

SRAM樣品原位單次掃描表面電勢成像，

AFM 形貌(A)，相位 (B) ，表面電勢(C), dC/dZ (D)

　　掃描范圍: 15 µm x 15 µm。