ICC訊 維度光電精耕細作,隆重推出BeamHere光斑分析儀系列。該系列包括相機式光斑分析儀、掃描狹縫式光斑分析儀和M2測試模塊,為您提供世界領先的高性價比激光光束質量檢測全系列產品。
No.1
掃描狹縫式光斑分析儀
國內首創,維度光電突破性推出三個型號的掃描狹縫光斑分析儀系列,實現在190~2700nm范圍內的光斑分析。采用狹縫刀口雙模式切換,將可測量光束直徑拓展至2.5μm~10mm范圍,在不外加衰減片的情況可測量更高的功率。
刀口、狹縫雙模式
BeamHere掃描狹縫式光斑分析儀不同型號都具有刀口與狹縫掃描兩個模式,可由軟件自主切換,以應對不同大小光束的測試需求。
微米級小光束測量
在測量直徑小于20μm的極小光斑時,其它類型分析儀僅點亮幾個像素,無法反映光斑形態,BeamHere掃描狹縫式光斑分析儀用刀口法進行測試,優勢顯著。
0.1微米超高分辨率
BeamHere掃描狹縫式光斑分析儀對于光斑的分辨率達到0.1μm,能更清晰準確的反映光斑形貌,不會損失重要特征。
高功率光束測量
每次只會允許狹縫處的光透過并采集功率值,不會一次接收全部的光功率,這使得BeamHere掃描狹縫式光斑分析儀的可以測試近10W的高功率激光。
No.2
相機式光斑分析儀系列
基于相機成像原理的BeamHere相機式光斑分析儀系列包含兩個型號,覆蓋可見光與近紅外寬譜波段,實現在400~1700nm范圍內的光斑實時顯示與分析。
超寬波段測量范圍
短波紅外波段型號的光斑分析儀具有400~1700nm的光譜響應范圍,覆蓋常規的可見光與近紅外波長的光斑測量需求。
2D、3D實時顯示
BeamHere相機式光斑分析儀在連續測量的模式下,可以以高幀率進行畫面刷新,對于光斑的變化做到實時反映,同時3D視圖也可以實時分析并可以任意視角查看。實時性是動態測試、光學系統調整或時間監控方面的巨大的優勢。
非高斯光束測量
相機式成像是由許多像素同時反饋出同一光斑截面不同位置的形態,所以即使能量分布不規則或非高斯分布含高階橫模的光斑,如平定光束、空心光束、貝塞爾光束等都能由相機款光斑分析儀準確的測量。
標配六衰減片設計
BeamHere相機式光斑分析儀,采用獨特的濾光片轉輪結構,在轉輪內最多可安裝6片不同波長不同衰減的濾光片,以最緊湊的方式實現最大的功率測量范圍,輕輕轉動即可完成濾光片更換,做到簡易操作、高效測量。
兼得科研相機成像
光斑分析相機和濾光片轉輪的可拆卸設計,極大拓展功能應用,拆卸后的相機配合額外相機驅動軟件可滿足科研成像對于CMOS相機或短波紅機的應用需求。
No.3
M2因子測試模塊
適配相機式光斑分析儀與掃描狹縫光斑分析儀系列產品的M2測試模塊,針對激光的傳播質量檢測,可測量M2、發散角、束腰位置、束腰直徑等光束質量特性參數。
No.4
分析軟件
維度光電自研的BeamHere光斑分析儀軟件,從邏輯設計到視覺呈現都以清晰簡潔、操作方便、交互友好為導向,考慮不同使用場景,為用戶打造實用高效的操作軟件。
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