LTE測試技術挑戰，共創4G時代美好未來

訊石光通訊網發布時間:2014/1/8 11:36:18 編者:iccsz

摘要：2013年12月27日下午，第九屆IMCA 國際儀器儀表與測控自動化高峰論壇暨“2013 TD-LTE測量測試核心技術大會”，在深圳馬可孛羅好日子酒店舉辦并圓滿成功！迎接4G時代LET測量測試帶來的變革和挑戰，LTE將為測量測試產業鏈帶來前所未有的發展機遇。此屆測量測試業界翹楚聚焦的2013 TD-LTE測量測試核心技術大會，以“4G時代，共創美好未來”為主題成功打造了一個高水準的高峰論壇。

內容來自：訊石光通訊咨詢網
本文地址：http://www.fmsd666.com//Site/CN/News/2014/01/08/20140108033910433800.htm 轉載請保留文章出處
關鍵字: LTE 測試設備
文章標題:LTE測試技術挑戰，共創4G時代美好未來

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