Tektronix為DSA8300采樣示波器推出新的光模塊

  ICCSZ訊(編譯：Vicki)Tektronix公司為其DSA8300采樣示波器推出了兩個新的光學模塊，提供了它所聲稱的行業最高靈敏度和最低噪音。這些光學模塊使制造商能夠提高生產能力，并提高400G設計的產量。

  Tektronix還宣布了一個針對4通道并行處理的軟件包，用于高吞吐量的制造測試，為新的400G PAM4 TDECQ測量提供升級的支持。

  光器件產業正加速向400G和PAM4，以滿足數據中心不斷增長的帶寬需求，同時降低信噪比，降低信號幅度，增加10倍以上的測試數量，挑戰生產工程以降低設備測試成本。Tektronix公司證實其基于DSA8300的采樣可以降低測試成本，該行業的帶寬最高，靈敏度最高，且測試時間縮短。

  Tektronix表示，新的56 GBaud PAM4 80C20和80C21光模塊和NRZ通過9μW光學噪聲可以安裝在DSA8300采樣示波器，通過雙通道80C21，光器件制造測試工程師可以提高產量和容量。

  Tektronix提供了一套全面的增強PAM4分析工具，用于分解信號內容，使其具有噪音和抖動，使工程師能夠在設備故障時發現潛在的問題。

  Tektronix公司的總經理Sarah Boen表示:“隨著400G設計進入生產階段，我們的客戶正在尋找提高制造產量和測試成本的方法，這一切都始于對測試結果的信心，以及快速準確地將好的部件與壞的部件分開的能力。隨著業界對最低的噪音和最高的靈敏度的需求，我們的解決方案提供了一些見解，提高了光學元件和互連的產量和吞吐量?！?

  從4月份開始，將有80C20和80C21光學模塊和400G測試軟件升級。