告別漏光與誤判！一站式FA連接器插回損極性檢測黑科技

FA/JUMPER Test Solution

新型連接器測試解決方案

三位一體高效測試丨專利視覺極性識別

  FA/JUMPER器件隨著光模塊的發展也迎來了新的市場需求；與傳統連接器不同，FA/JUMPER器件尾端的晶體端面不能直接進行物理對接，并且器件的長度也普遍較短，因此在插入損耗、回波損耗測試上存在漏光、回損測試不準等問題，同時也不能用常規的極性檢測儀測試光纖極性。為此維度科技在多芯極性插回損儀的基礎上升級選代，為客戶提供一站式的FA/JUMPER測試解決方案，兼顧不同分支數、不同角度的FA器件測試，快速測試IL、RL、極性，提高生產檢驗的效率。

  主要優勢 / Main Advantage

  ?  支持單模、多模FA器件測試

  ?  波長可定制：如1270、1490、1625nm等

  ?  一站式測試，IL、RL、極性，無需兩端對接

  ?  測試FA器件兩端的回損總和無最小距離限制

  ?  專利設計視覺檢測極性

  ?  豐富的FA夾具、接口，輕松替換

  ?  探測接口可外置，適配多分支FA或Z-BLOCK器件

  ?  可定制阿基米德積分球，測試2000+芯數FA

  主要應用 / Main Application

  ?  MT-FA器件

  ?  JUMPER

  ?  Z-BLOCK連接器

  ?  光模塊內部微型連接

  方案特點 / Main Feature

  ? 可同時測試2x3、1x3等FA器件，效率提升600%

  ? 電機自動測試，磁吸夾具定位

  ? 全平臺架構，可集成維度端檢、干涉儀檢測

  豐富的接口設計，穩定夾持  多維光機件精密微調

  傳統插回損儀在測試FA器件時往往存在接口不適配，對接不緊密導致漏光或偏離角度造成插損測試數值不準確的問題。維度科技提供夾具+接口的設計方式，便于用戶快速操作，能夠夾持穩定，并且不劃傷端面，減少誤差。

  為了適配一些較寬的FA器件或是多分支端口同時接入測試的情況,插回損儀積分球的接口進行了適配升級,入光口徑>10mm并在接口邊緣進行了防漏光設計。

  在MT-FA測試需求下，維度科技提供多維度調節的光機平臺幫助用戶實現多端同時測試。該光機組件預留足夠的調節維度數，若需要更換被測件時，只需手動調校到新被測件合適的位置和角度即可。

  一步檢測插入損耗、回波損耗、極性  解決FA極性痛點

  FA/JUMPER器件由于無法直接對接極性測試儀的MPO接口，導致TOSA/ROSA陣列的極性測試方法失效。維度科技首發專利提出的視覺檢測極性方案能夠有效解決這一痛點，并且內置于插回損儀內部，用戶只需要一步操作接入被測件，就可以檢測FA/JUMPER器件的IL、RL、極性。

  該測試方案能夠實現自動測試IL、RL、極性,用戶如測試大芯數光纖陣列器件(如2000+芯數以上)，也可以通過大容量積分球收光實現測試。對于多分支FA器件，軟件可智能整理極性順序，并統一生成報告。

  主要規格參數

  訂購信息

  舉例：

  RLM1612A-1FA-2424芯極性免纏繞武插回損儀，波長131011550單模9/125|nGaAs 2mm(極性積分球)，光源輸出端口1CH 接口類型FC/APC。

  備注信息：

  RL實現方式 A/C型號支持雙激光器波長，兩位數字編碼分別代表兩個激光器波長，客戶可在列表中選擇激光器波長或者定制激光器波長。

  B型號支持4個單模波長，激光器波長需選擇XX。